產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
美國CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀
CMI900 X-RAY的原理
X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，
詳情介紹：
美國CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀
CMI900 X-RAY的原理
X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為22號元素（鈦Ti）到92號元素（鈾U）。
X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為22號元素（鈦Ti）到92號元素（鈾U）。
X射線熒光的物理意義：
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內(nèi)的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：鈉米，nm）描述。X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個穩(wěn)定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層：分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
當具有高能量的入射（一次）X射線與原子發(fā)生碰撞時，會打破原子結構的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現(xiàn)相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。儀器通過探測不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性，進行分析計算得到各鍍層厚度，這一個過程就是我們所說的X射線熒光測厚。
應用
X射線熒光鍍層測厚儀，有著快速，準確，非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用
行業(yè)
用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量
聯(lián)系:02265352071 林先生
應用
X射線熒光鍍層測厚儀，有著快速，準確，非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用
行業(yè)
用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量
聯(lián)系:02265352071 林先生
CMI做為***品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個行業(yè)標準，華南地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的**測量
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的**測量
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析.基于Windows XP
中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900主機的**自動化控制，
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析.基于Windows XP
中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900主機的**自動化控制，
技術參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都**于全世界的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定*多5層、15 種元素。
B ：**度**于世界，**到0。025um (相對與標準片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、*大值、*小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，*小可達0.025 x 0.051毫米
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定*多5層、15 種元素。
B ：**度**于世界，**到0。025um (相對與標準片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、*大值、*小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，*小可達0.025 x 0.051毫米
樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調(diào)高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調(diào)高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI900主要技術規(guī)格如下：
No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述
1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 X射線管功率可編程控制
裝備有**防射線光閘
2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據(jù)靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3 準直器程控交換系統(tǒng) *多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制
多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，*小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，*大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6 樣品室 CMI900 (選配)
－樣品室結構 開槽式樣品室
－*大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm
－Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述
1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 X射線管功率可編程控制
裝備有**防射線光閘
2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據(jù)靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3 準直器程控交換系統(tǒng) *多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制
多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，*小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，*大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6 樣品室 CMI900 (選配)
－樣品室結構 開槽式樣品室
－*大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm
－Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
